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菲希爾xdlm-237測厚儀
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):代理商
更新時間:2022-07-18
訪 問 量:2188
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菲希爾xdlm-237測厚儀
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FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。此外,XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。

電鍍液成分分析:Cu, Ni, Au (g/l)
。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
。*高工作條件:50KV,50W
。X射線探測器采用比例接收器
。準直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm到00.3 mm
。基本濾片:固定或3個自動切換
。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
。固定樣品支撐臺,手動XY工作臺
。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
。刻度線經(jīng)過校準,顯示實際測量點大小。
。設(shè)計獲得許可, 防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)
。大批量電鍍件測量
。防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
。電鍍行業(yè)樓液分析
。線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
。測量接插件和觸點的鍍層
。電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
。黃金,珠寶和手表行業(yè)

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB
XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起,測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。
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